冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)對(duì)BGA焊接的影響
文章出處:正航儀器
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發(fā)表時(shí)間:2014-01-06
前段時(shí)間,正航儀器的工程師們研究發(fā)現(xiàn)了一個(gè)課題,關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱針對(duì)BGA焊接的實(shí)驗(yàn)如此上演了:
1、冷熱沖擊試驗(yàn),由于其溫度改變率大,在高低溫段停留的時(shí)間長(zhǎng),因此,比一般的熱循環(huán)會(huì)對(duì)元器件封裝造成更大的損傷,在本研究中經(jīng)過600 個(gè)循環(huán)后,從切片中可發(fā)現(xiàn)BGA 焊接處有明顯的失效行為與盲孔相連的焊接位置有空洞出現(xiàn),根據(jù)熱膨脹系數(shù)(CTE)不匹配系數(shù)公式Δu =Δe×L×Δt(Δe 是不同材料CTE系數(shù)間的差值,L 是元器件的最長(zhǎng)尺寸,Δt 是溫度的改變值),因?yàn)樵诤噶吓c焊盤以及盲孔內(nèi)電鍍銅的CTE 不一致,并且溫度的改變值也很大,導(dǎo)致Δu 變大,焊點(diǎn)會(huì)受到剪切應(yīng)力。
2、溫度快速上升到高溫段并且停留的過程中焊料還會(huì)發(fā)生高溫蠕變,致使焊接位置的力學(xué)性能降低,熱應(yīng)力增大;由于受到應(yīng)力的作用,焊料中的氣體不能及時(shí)排出,造成焊料的大面積孔洞。這會(huì)阻礙熱量的傳遞,導(dǎo)致局部高溫,使元器件失效。
針對(duì)冷熱沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)研究所得出的結(jié)論,工程師的小伙伴們都驚呆了,但同時(shí)也更堅(jiān)信了一句話:實(shí)踐檢驗(yàn)出真知。http://www.fairysky.net
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